X射线荧光分析仪（XRF）_江苏丹仕通科技有限公司

X荧光光谱仪FEDX-M820

FEDX-M820荧光光谱仪结构紧凑，外形美观，占用空间小；配置高，性能卓越；主要用来分析金属合金、冶炼材料、新型材料、地质矿物等样品。

技术参数:

分析元素范围：Na(11)-U(92)

含量分析范围：1ppm-99.9999%

分析样品类型：颗粒、固体、液体、粉末等

滤光系统：6 种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe 等组合)

进口探测器：FAST-SDD 探测器

标准配置：真空系统、样品自旋系统

应用领域